ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਇੱਕ ਤੇਜ਼-ਗਤੀ ਅਤੇ ਲਾਗਤ-ਪ੍ਰਭਾਵਸ਼ਾਲੀ ਜੋੜਨ ਦਾ ਤਰੀਕਾ ਹੈ। ਇਹ ਪਤਲੇ-ਪਲੇਟ ਹਿੱਸਿਆਂ ਨੂੰ ਲੈਪ ਜੋੜਾਂ ਨਾਲ ਜੋੜਨ ਲਈ ਢੁਕਵਾਂ ਹੈ ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਨੂੰ ਹਵਾ ਬੰਦ ਹੋਣ ਦੀ ਲੋੜ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦੀ। ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀਆਂ ਕਈ ਕਿਸਮਾਂ ਹਨ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਆਰਕ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਐਡਹੇਸਿਵ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ,ਕੰਪੋਜ਼ਿਟ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਅਤੇ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ। ਵਰਤਮਾਨ ਵਿੱਚ, ਉਤਪਾਦਨ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਵਿਆਪਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ। ਆਟੋਮੋਟਿਵ ਉਦਯੋਗ ਨੂੰ ਉਦਾਹਰਣ ਵਜੋਂ ਲੈਂਦੇ ਹੋਏ, ਕਾਰ ਬਾਡੀ ਪੈਨਲ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਦੀ ਅਸੈਂਬਲੀ ਦੌਰਾਨ 3,000 ਤੋਂ 4,000 ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਜਿਸ ਲਈ ਸਹਾਇਕ ਕੰਟਰੋਲ ਸਿਸਟਮ ਅਤੇ ਹੋਰ ਸਹਾਇਕ ਉਪਕਰਣਾਂ ਦੇ ਨਾਲ 250 ਤੋਂ 300 ਰੋਬੋਟਾਂ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਕਮਜ਼ੋਰ ਲਚਕਤਾ ਹੈ। ਤੇਜ਼ ਆਰਥਿਕ ਵਿਕਾਸ ਦੇ ਨਾਲ, ਆਟੋਮੋਟਿਵ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਦੇ ਜਿਓਮੈਟ੍ਰਿਕ ਆਕਾਰਾਂ ਅਤੇ ਬਣਤਰਾਂ ਦਾ ਅਪਡੇਟ ਚੱਕਰ ਬਹੁਤ ਛੋਟਾ ਹੋ ਗਿਆ ਹੈ। ਨਵੇਂ ਉਤਪਾਦਾਂ ਅਤੇ ਮਾਡਲਾਂ ਨੂੰ ਅਪਗ੍ਰੇਡ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਨਵੀਂ ਕਿਸਮ ਦੀ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ ਜੋ ਕੁਸ਼ਲ ਅਤੇ ਲਚਕਦਾਰ ਹੋਵੇ। ਇਸ ਲਈ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਹੌਲੀ-ਹੌਲੀ ਧਿਆਨ ਦਾ ਕੇਂਦਰ ਬਣ ਗਈ ਹੈ ਅਤੇ ਆਟੋਮੋਟਿਵ ਉਦਯੋਗਿਕ ਉਤਪਾਦਨ ਵਿੱਚ ਵਿਆਪਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਲਾਗੂ ਹੋਣ ਦੀ ਉਮੀਦ ਹੈ। ਏਰੋਸਪੇਸ ਖੇਤਰ ਵਿੱਚ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਨੂੰ ਇੱਕ ਵਿਕਲਪਿਕ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਵਜੋਂ ਵੀ ਟੈਸਟ ਕੀਤਾ ਜਾ ਰਿਹਾ ਹੈ। ਲੰਬੇ ਸਮੇਂ ਤੋਂ, ਏਰੋਸਪੇਸ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੇ ਲੈਪ ਜੋੜਾਂ ਨੇ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਰਿਵੇਟਿੰਗ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਹੈ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਬਹੁਤ ਸਾਰੀਆਂ ਉਤਪਾਦਨ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਅਤੇ ਭਾਰੀ ਕੰਮ ਦਾ ਬੋਝ ਸ਼ਾਮਲ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਐਲੂਮੀਨੀਅਮ ਮਿਸ਼ਰਤ, ਟਾਈਟੇਨੀਅਮ ਮਿਸ਼ਰਤ, ਅਤੇ ਮਿਸ਼ਰਤ ਸਮੱਗਰੀ ਵਰਗੀਆਂ ਨਵੀਆਂ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀ ਵਧਦੀ ਵਰਤੋਂ ਦੇ ਨਾਲ, ਰਵਾਇਤੀ ਜੋੜਨ ਦੇ ਤਰੀਕਿਆਂ ਨੂੰ ਬਦਲਣ ਲਈ ਨਵੀਂ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤਕਨਾਲੋਜੀਆਂ ਨੂੰ ਅਪਣਾਉਣਾ ਇੱਕ ਮੁੱਖ ਧਾਰਾ ਦਾ ਰੁਝਾਨ ਬਣ ਗਿਆ ਹੈ। ਇਹ ਨਾ ਸਿਰਫ਼ ਉਤਪਾਦਨ ਕੁਸ਼ਲਤਾ ਵਿੱਚ ਸੁਧਾਰ ਕਰਦਾ ਹੈ ਬਲਕਿ ਢਾਂਚਾਗਤ ਭਾਰ ਨੂੰ ਵੀ ਘਟਾਉਂਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਨਵੀਆਂ ਢਾਂਚਾਗਤ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਜ਼ਰੂਰਤਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਏਰੋਸਪੇਸ ਉਤਪਾਦਾਂ ਲਈ ਬਹੁਤ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ। ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਉੱਚ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਅਤੇ ਉੱਚ ਲਚਕਤਾ ਇਸਨੂੰ ਵਿਹਾਰਕ ਉਤਪਾਦਨ ਵਿੱਚ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਫਾਇਦੇ ਦਿੰਦੀ ਹੈ, ਖਾਸ ਕਰਕੇ ਹਵਾਬਾਜ਼ੀ ਉਦਯੋਗ ਵਿੱਚ, ਜਿੱਥੇ ਇਹ ਰਵਾਇਤੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਰਿਵੇਟਿੰਗ ਨੂੰ ਬਦਲ ਸਕਦੀ ਹੈ।
I. ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਪਰਿਭਾਸ਼ਾ ਅਤੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ
ਪਰਿਭਾਸ਼ਾ
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਇੱਕ ਸਿੰਗਲ ਲੇਜ਼ਰ ਪਲਸ (t > 1ms) ਜਾਂ ਉਸੇ ਸਥਿਤੀ 'ਤੇ ਲੇਜ਼ਰ ਪਲਸਾਂ ਦੀ ਇੱਕ ਲੜੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਵਰਕਪੀਸ ਨੂੰ ਪਿਘਲਾਉਣ ਅਤੇ ਜੋੜਨ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦੀ ਹੈ।
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਮੂਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਹੋਰ ਲੇਜ਼ਰ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੇ ਸਮਾਨ ਹੈ; ਸਿਰਫ ਫਰਕ ਇਹ ਹੈ ਕਿ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੌਰਾਨ ਲੇਜ਼ਰ ਬੀਮ ਅਤੇ ਵਰਕਪੀਸ ਵਿਚਕਾਰ ਕੋਈ ਸਾਪੇਖਿਕ ਵਿਸਥਾਪਨ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ। ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਨੂੰ ਦੋ ਕਿਸਮਾਂ ਵਿੱਚ ਵੰਡਿਆ ਗਿਆ ਹੈ: ਥਰਮਲ ਕੰਡਕਸ਼ਨ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਕੀਹੋਲ ਵੈਲਡਿੰਗ। ਥਰਮਲ ਕੰਡਕਸ਼ਨ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ, ਲੇਜ਼ਰ ਧਾਤ ਨੂੰ ਵਾਸ਼ਪੀਕਰਨ ਕੀਤੇ ਬਿਨਾਂ ਹੀ ਪਿਘਲਾ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਵਿਧੀ 0.5mm ਤੋਂ ਘੱਟ ਮੋਟਾਈ ਵਾਲੀਆਂ ਧਾਤਾਂ ਦੀ ਵੈਲਡਿੰਗ ਲਈ ਵਧੇਰੇ ਢੁਕਵੀਂ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦੀ Nd:YAG ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ। ਕੀਹੋਲ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਿੱਧੇ ਕੀਹੋਲ ਰਾਹੀਂ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਅੰਦਰ ਦਾਖਲ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਲੇਜ਼ਰ ਊਰਜਾ ਦੀ ਉਪਯੋਗਤਾ ਦਰ ਨੂੰ ਵਧਾਉਂਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਇੱਕ ਵੱਡੀ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਡੂੰਘਾਈ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਦਾ ਹੈ। ਪਰੰਪਰਾਗਤ ਰੋਧਕ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਰਕਪੀਸ ਨੂੰ ਪਿਘਲਾ ਕੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਕਰੰਟ ਦੁਆਰਾ ਪੈਦਾ ਹੋਣ ਵਾਲੀ ਰੋਧਕ ਗਰਮੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਬਣਾਉਂਦਾ ਹੈ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦਾ ਗਰਮੀ ਸਰੋਤ ਲੇਜ਼ਰ ਰੇਡੀਏਸ਼ਨ ਤੋਂ ਆਉਂਦਾ ਹੈ, ਜਿਸਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਕਾਫ਼ੀ ਵੱਖਰੇ ਵੇਲਡ ਸਪਾਟ ਆਕਾਰ ਹੁੰਦੇ ਹਨ।
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੇ ਐਡਜਸਟੇਬਲ ਪੈਰਾਮੀਟਰਾਂ ਵਿੱਚ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਵਰ, ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਮਾਂ, ਅਤੇ ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਸ਼ਾਮਲ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਪਲਸ ਮੋਡ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਲਈ, ਪੈਰਾਮੀਟਰਾਂ ਵਿੱਚ ਪਲਸ ਵੇਵਫਾਰਮ, ਬਾਰੰਬਾਰਤਾ ਅਤੇ ਡਿਊਟੀ ਚੱਕਰ ਵੀ ਸ਼ਾਮਲ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਇਹਨਾਂ ਵਿੱਚੋਂ, ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਵਰ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੀ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਡੂੰਘਾਈ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਮਾਂ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਪਾਸੇ ਦੇ ਆਕਾਰ 'ਤੇ ਵਧੇਰੇ ਪ੍ਰਭਾਵ ਪਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ, ਲੇਜ਼ਰ ਐਕਸ਼ਨ ਸਮਾਂ ਜਿੰਨਾ ਲੰਬਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੀਆਂ ਉਪਰਲੀਆਂ ਅਤੇ ਹੇਠਲੀਆਂ ਸਤਹਾਂ ਦਾ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਫਿਊਜ਼ਨ ਸਤਹ ਦਾ ਆਕਾਰ ਓਨਾ ਹੀ ਵੱਡਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਵਿੱਚ ਬਦਲਾਅ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਕਪੀਸ ਸਤਹ 'ਤੇ ਕੰਮ ਕਰਨ ਵਾਲੇ ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਅਤੇ ਊਰਜਾ ਘਣਤਾ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦੇ ਹਨ, ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੀ ਸਮੁੱਚੀ ਸ਼ਕਲ 'ਤੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਪ੍ਰਭਾਵ ਪਾਉਂਦੇ ਹਨ।
ਗੁਣ
- ਲੇਜ਼ਰ ਨੂੰ ਗਰਮੀ ਦੇ ਸਰੋਤ ਵਜੋਂ ਵਰਤ ਕੇ, ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਉੱਚ ਗਤੀ, ਉੱਚ ਸ਼ੁੱਧਤਾ, ਘੱਟ ਗਰਮੀ ਇਨਪੁੱਟ, ਅਤੇ ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਵਰਕਪੀਸ ਵਿਗਾੜ ਦੀ ਪੇਸ਼ਕਸ਼ ਕਰਦੀ ਹੈ।
- ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪੋਜੀਸ਼ਨਾਂ ਵਿੱਚ ਆਜ਼ਾਦੀ ਦੀ ਡਿਗਰੀ ਬਹੁਤ ਬਿਹਤਰ ਹੋਈ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਆਲ-ਪੋਜੀਸ਼ਨ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਅਹਿਸਾਸ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈਇੱਕ-ਪਾਸੜ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ ਉਤਪਾਦ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਦੀ ਆਜ਼ਾਦੀ ਨੂੰ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਧਾਉਂਦਾ ਹੈ।
- ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਲੈਪ ਜੋੜਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਲਈ ਘੱਟ ਲੋੜਾਂ ਹਨ। ਜੋੜਾਂ ਦੀ ਲੈਪ ਮਾਤਰਾ ਅਤੇ ਵੈਲਡ ਸਥਾਨਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਦੂਰੀ ਵਰਗੇ ਮਾਪਦੰਡਾਂ 'ਤੇ ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਪਾਬੰਦੀਆਂ ਹਨ, ਅਤੇ ਮੌਜੂਦਾ ਸ਼ੰਟਿੰਗ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ 'ਤੇ ਵਿਚਾਰ ਕਰਨ ਦੀ ਕੋਈ ਲੋੜ ਨਹੀਂ ਹੈ।
- ਅਸਮਾਨ-ਮੋਟਾਈ ਵਾਲੀਆਂ ਪਲੇਟਾਂ, ਭਿੰਨ-ਭਿੰਨ ਸਮੱਗਰੀਆਂ, ਅਤੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਸਮੱਗਰੀਆਂ (ਐਲੂਮੀਨੀਅਮ ਮਿਸ਼ਰਤ, ਗੈਲਵੇਨਾਈਜ਼ਡ ਸ਼ੀਟਾਂ) ਦੀ ਵੈਲਡਿੰਗ ਲਈ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਰਵਾਇਤੀ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤਰੀਕਿਆਂ ਨਾਲੋਂ ਬਿਹਤਰ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਕਰਦੀ ਹੈ।
- ਇਸਨੂੰ ਵੱਡੀ ਗਿਣਤੀ ਵਿੱਚ ਸਹਾਇਕ ਉਪਕਰਣਾਂ ਦੀ ਲੋੜ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦੀ, ਇਹ ਉਤਪਾਦ ਤਬਦੀਲੀਆਂ ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਢਲ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਬਾਜ਼ਾਰ ਦੀਆਂ ਮੰਗਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ।
II. ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦਾ ਨੁਕਸ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਤਰੇੜਾਂ, ਪੋਰਸ ਅਤੇ ਝੁਲਸਣਾ ਸਭ ਤੋਂ ਆਮ ਨੁਕਸ ਹਨ, ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਦਾ ਹੇਠਾਂ ਇੱਕ-ਇੱਕ ਕਰਕੇ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ।
1. ਤਰੇੜਾਂ
ਤਰੇੜਾਂ ਨੂੰ ਸਤ੍ਹਾ ਦੀਆਂ ਤਰੇੜਾਂ ਅਤੇ ਲੰਬਕਾਰੀ ਤਰੇੜਾਂ ਵਿੱਚ ਵੰਡਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੌਰਾਨ ਗਰਮ ਕਰਨ ਅਤੇ ਠੰਢਾ ਕਰਨ ਦੀਆਂ ਦਰਾਂ ਬਹੁਤ ਤੇਜ਼ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ, ਜਿਸਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਗਰਮ ਕੀਤੇ ਖੇਤਰ ਅਤੇ ਆਲੇ ਦੁਆਲੇ ਦੀ ਧਾਤ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਇੱਕ ਵੱਡਾ ਤਾਪਮਾਨ ਗਰੇਡੀਐਂਟ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਦਰਾੜਾਂ ਬਣਨ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣਦਾ ਹੈ। ਤਰੇੜਾਂ ਦੀ ਮੌਜੂਦਗੀ ਸਮੱਗਰੀ ਨਾਲ ਨੇੜਿਓਂ ਜੁੜੀ ਹੋਈ ਹੈ; ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, ਐਲੂਮੀਨੀਅਮ ਮਿਸ਼ਰਤ ਧਾਤ ਵਿੱਚ ਸਟੇਨਲੈਸ ਸਟੀਲ ਨਾਲੋਂ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੌਰਾਨ ਦਰਾੜਾਂ ਦੀ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਪ੍ਰਵਿਰਤੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਦਰਾੜਾਂ ਦੇ ਗਠਨ ਨੂੰ ਦਬਾਉਣ ਦਾ ਇੱਕ ਪ੍ਰਭਾਵਸ਼ਾਲੀ ਤਰੀਕਾ ਹੈ ਧਾਤ ਦੇ ਠੋਸੀਕਰਨ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੀ ਕੂਲਿੰਗ ਦਰ ਨੂੰ ਨਿਯੰਤਰਿਤ ਕਰਨ ਅਤੇ ਅੰਦਰੂਨੀ ਤਣਾਅ ਨੂੰ ਘਟਾਉਣ ਲਈ ਪਲਸ ਵੇਵਫਾਰਮ ਨੂੰ ਅਨੁਕੂਲ ਬਣਾਉਣਾ।
2. ਛੇਦ
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡ ਵਿੱਚ ਪੋਰਸ ਨੁਕਸ (ਪੋਰਸ) ਨੂੰ ਛੋਟੇ ਪੋਰਸ ਅਤੇ ਵੱਡੇ ਪੋਰਸ ਵਿੱਚ ਵੰਡਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਛੋਟੇ ਪੋਰਸ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਧਾਤ ਦੇ ਠੋਸੀਕਰਨ ਦੌਰਾਨ ਤਰਲ ਧਾਤ ਵਿੱਚ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਨ ਦੀ ਘੁਲਣਸ਼ੀਲਤਾ ਵਿੱਚ ਕਮੀ, ਨਾਲ ਹੀ ਕੀਹੋਲ ਵਿੱਚ ਧਾਤ ਦੇ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਵਾਸ਼ਪੀਕਰਨ ਅਤੇ ਪਿਘਲੇ ਹੋਏ ਪੂਲ ਦੇ ਵਿਘਨ ਕਾਰਨ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਵੱਡੇ ਪੋਰਸ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੌਰਾਨ ਬਹੁਤ ਤੇਜ਼ ਕੂਲਿੰਗ ਦਰ ਕਾਰਨ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਕੀਹੋਲ ਦੇ ਆਲੇ ਦੁਆਲੇ ਧਾਤ ਨੂੰ ਬੈਕਫਿਲ ਕਰਨ ਲਈ ਕਾਫ਼ੀ ਸਮਾਂ ਨਹੀਂ ਰਹਿੰਦਾ। ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ, ਲੰਬੇ-ਪਲਸ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਛੋਟੇ ਪੋਰਸ ਬਣਨ ਦੀ ਸੰਭਾਵਨਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਛੋਟੇ-ਪਲਸ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਵੱਡੇ ਪੋਰਸ ਹੋਣ ਦੀ ਸੰਭਾਵਨਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਦੋ ਥਾਵਾਂ ਹਨ ਜਿੱਥੇ ਪੋਰਸ ਦਿਖਾਈ ਦੇਣ ਦੀ ਸਭ ਤੋਂ ਵੱਧ ਸੰਭਾਵਨਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ: ਇੱਕ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਫਿਊਜ਼ਨ ਜ਼ੋਨ ਦੇ ਨੇੜੇ ਹੈ, ਅਤੇ ਦੂਜਾ ਵੈਲਡ ਦੀ ਜੜ੍ਹ 'ਤੇ ਹੈ। ਐਕਸ-ਰੇ ਦੁਆਰਾ ਖਿੱਚੀਆਂ ਗਈਆਂ ਪਿਘਲਣ ਵਾਲੀਆਂ ਤਸਵੀਰਾਂ ਦਰਸਾਉਂਦੀਆਂ ਹਨ ਕਿ ਫਿਊਜ਼ਨ ਜ਼ੋਨ ਦੇ ਨੇੜੇ ਪੋਰਸ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕੀਹੋਲ ਬੰਦ ਹੋਣ 'ਤੇ ਗਰਦਨ ਕਾਰਨ ਹੁੰਦੇ ਹਨ; ਵੈਲਡ ਰੂਟ 'ਤੇ ਪੋਰਸ ਲਈ, ਉਹ ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕੀਹੋਲ ਬਣਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਲੇਜ਼ਰ ਦੇ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਗਾਇਬ ਹੋਣ ਕਾਰਨ ਕੀਹੋਲ ਦੇ ਢਹਿ ਜਾਣ ਨਾਲ ਬਣਦੇ ਹਨ।
3. ਝੁਲਸਣਾ
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਸੈਗਿੰਗ ਇੱਕ ਸਪੱਸ਼ਟ ਵਰਤਾਰਾ ਹੈ। ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਕੇਂਦਰੀ ਸੈਗਿੰਗ ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਆਲੇ ਦੁਆਲੇ ਧਾਤ ਦਾ ਇਕੱਠਾ ਹੋਣਾ ਧਾਤ ਦੇ ਵਾਸ਼ਪੀਕਰਨ ਦੁਆਰਾ ਪੈਦਾ ਹੋਣ ਵਾਲੀ ਰੀਕੋਇਲ ਫੋਰਸ ਕਾਰਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਜੋ ਤਰਲ ਧਾਤ ਨੂੰ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਧੱਕਦਾ ਹੈ। ਕੂਲਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੌਰਾਨ, ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਇਕੱਠੀ ਹੋਈ ਧਾਤ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਠੋਸ ਹੋ ਜਾਂਦੀ ਹੈ ਅਤੇ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਬੈਕਫਿਲ ਨਹੀਂ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ। ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਤੇਜ਼ ਧਾਤ ਦੇ ਵਾਸ਼ਪੀਕਰਨ ਅਤੇ ਛਿੱਟੇ ਪੈਣ ਕਾਰਨ ਹੋਣ ਵਾਲਾ ਸਮੱਗਰੀ ਦਾ ਨੁਕਸਾਨ ਕੇਂਦਰੀ ਸੈਗਿੰਗ ਵਿੱਚ ਯੋਗਦਾਨ ਪਾਉਣ ਵਾਲਾ ਇੱਕ ਹੋਰ ਕਾਰਕ ਹੈ। ਪਲਸ ਟਾਈਮ ਦਾ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਸਤ੍ਹਾ ਦੇ ਸੈਗਿੰਗ ਅਤੇ ਪੋਰਸ ਦੇ ਗਠਨ ਦੋਵਾਂ 'ਤੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਪ੍ਰਭਾਵ ਪੈਂਦਾ ਹੈ। ਪਲਸ ਵੇਵਫਾਰਮ ਅਤੇ ਸਮੇਂ ਨੂੰ ਅਨੁਕੂਲ ਬਣਾ ਕੇ ਸੰਤੁਸ਼ਟੀਜਨਕ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ।
4. ਵੈਲਡ ਸਥਾਨਾਂ 'ਤੇ ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਦਾ ਪ੍ਰਭਾਵ
ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਵਿੱਚ ਬਦਲਾਅ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਅਤੇ ਊਰਜਾ ਘਣਤਾ ਨੂੰ ਬਦਲਦੇ ਹਨ। ਜਦੋਂ ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਨਕਾਰਾਤਮਕ ਅਤੇ ਸਕਾਰਾਤਮਕ ਦੋਵਾਂ ਦਿਸ਼ਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਵਧਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਇਸਦਾ ਮਤਲਬ ਹੈ ਕਿ ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਵਧਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਊਰਜਾ ਘਣਤਾ ਘਟਦੀ ਹੈ। ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੌਰਾਨ, ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਅਤੇ ਟੈਸਟ ਟੁਕੜੇ 'ਤੇ ਲੇਜ਼ਰ ਘਟਨਾ ਦੁਆਰਾ ਬਣਾਏ ਗਏ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਕੀਹੋਲ ਦੇ ਆਕਾਰ ਵਿਚਕਾਰ ਇੱਕ ਖਾਸ ਅਨੁਸਾਰੀ ਸਬੰਧ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਊਰਜਾ ਘਣਤਾ ਪਿਘਲੇ ਹੋਏ ਪੂਲ ਦੀ ਵਿਸਥਾਰ ਦਰ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਦੀ ਹੈ। ਜਦੋਂ ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਦਾ ਸੰਪੂਰਨ ਮੁੱਲ ਛੋਟਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਛੋਟਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਵਰ ਘਣਤਾ ਉੱਚ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਪਿਘਲੇ ਹੋਏ ਪੂਲ ਦੀ ਵਿਸਥਾਰ ਦਰ ਤੇਜ਼ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਪਰ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਕੀਹੋਲ ਦਾ ਵਿਆਸ ਛੋਟਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਇਸਦੇ ਉਲਟ, ਜਦੋਂ ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਵੱਡੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਕੀਹੋਲ ਦਾ ਵਿਆਸ ਵੱਡਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਪਰ ਪਿਘਲੇ ਹੋਏ ਪੂਲ ਦੀ ਵਿਸਥਾਰ ਦਰ ਹੌਲੀ ਹੋ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦਾ ਆਕਾਰ ਵੱਡਾ ਨਹੀਂ ਹੋ ਸਕਦਾ। ਇਸ ਲਈ, ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਵਿੱਚ ਤਬਦੀਲੀ ਦੌਰਾਨ, ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਅਤੇ ਸਤਹ ਪਾਵਰ ਘਣਤਾ ਦਾ ਵਿਆਪਕ ਪ੍ਰਭਾਵ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਆਕਾਰ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਦਾ ਹੈ।
III. ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਉੱਚ ਗਤੀ, ਵੱਡੀ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਡੂੰਘਾਈ, ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਵਿਗਾੜ ਹੈ, ਅਤੇ ਇਸਨੂੰ ਕਮਰੇ ਦੇ ਤਾਪਮਾਨ 'ਤੇ ਜਾਂ ਸਧਾਰਨ ਵੈਲਡਿੰਗ ਉਪਕਰਣਾਂ ਨਾਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਸਥਿਤੀਆਂ ਵਿੱਚ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਉੱਚ-ਫ੍ਰੀਕੁਐਂਸੀ ਪਲਸ ਲੇਜ਼ਰਾਂ (40 ਪਲਸ ਪ੍ਰਤੀ ਸਕਿੰਟ ਤੋਂ ਵੱਧ ਫ੍ਰੀਕੁਐਂਸੀ ਦੇ ਨਾਲ) ਦੇ ਉਭਾਰ ਨੇ ਅਸੈਂਬਲੀ ਵਿੱਚ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਵਿਆਪਕ ਵਰਤੋਂ ਅਤੇ ਪੁੰਜ ਆਟੋਮੇਟਿਡ ਉਤਪਾਦਨ ਵਿੱਚ ਸੂਖਮ ਅਤੇ ਛੋਟੇ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦੀ ਵੈਲਡਿੰਗ ਨੂੰ ਸਮਰੱਥ ਬਣਾਇਆ ਹੈ। ਛੋਟੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦੀ ਵੈਲਡਿੰਗ ਕਰਦੇ ਸਮੇਂ ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਨੂੰ ਇੱਕ ਛੋਟੇ ਗਰਮੀ-ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਜ਼ੋਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ—ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਕੱਚ ਅਤੇ ਧਾਤ ਵਿਚਕਾਰ ਕਨੈਕਸ਼ਨ, ਗਰਮੀ-ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਰਕਟਾਂ ਵਿੱਚ ਜੋੜਾਂ ਦਾ ਕਨੈਕਸ਼ਨ, ਅਤੇ ਤਾਰਾਂ ਵਿੱਚ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਧਾਤਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਕਨੈਕਸ਼ਨ—ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਰਵਾਇਤੀ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ, ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ) ਨਾਲੋਂ ਵਧੇਰੇ ਫਾਇਦੇਮੰਦ ਹੈ, ਪ੍ਰਦੂਸ਼ਣ-ਮੁਕਤ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਪਾਟ ਅਤੇ ਉੱਚ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਦੇ ਨਾਲ। ਚਿੱਤਰ 6-60 ਆਟੋਮੋਟਿਵ ਹੈੱਡਲਾਈਟਾਂ ਦੇ ਉਤਪਾਦਨ ਵਿੱਚ ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੀ ਇੱਕ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨ ਉਦਾਹਰਣ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ: ਇੱਕ 500W ਸਾਲਿਡ-ਸਟੇਟ ਪਲਸ ਲੇਜ਼ਰ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਹੀ ਉੱਚ ਪਲਸ ਫ੍ਰੀਕੁਐਂਸੀ ਦੇ ਨਾਲ ਚਾਰ ਸਮਾਨ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਪਾਟ ਪੈਦਾ ਕਰਦਾ ਹੈ।
ਜਦੋਂ ਉੱਚ ਪਲਸ ਊਰਜਾ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਟ੍ਰਕਚਰ 'ਤੇ ਉੱਚ-ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਵਾਲੀ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਤਾਂ ਪਲਸਡ Nd:YAG ਲੇਜ਼ਰਾਂ ਦੇ ਤਕਨੀਕੀ ਅਤੇ ਆਰਥਿਕ ਫਾਇਦੇ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਉਦਯੋਗਿਕ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਵਿੱਚ, 50W ਦੀ ਔਸਤ ਪਾਵਰ ਅਤੇ 2kW ਤੋਂ ਵੱਧ ਪਲਸ ਪਾਵਰ ਵਾਲੇ ਪਲਸਡ ਸਾਲਿਡ-ਸਟੇਟ ਲੇਜ਼ਰ ਮੂਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਵਰਤੇ ਜਾਂਦੇ ਹਨ। ਲੇਜ਼ਰ ਆਪਟੀਕਲ ਫਾਈਬਰਾਂ ਜਾਂ ਸੰਯੁਕਤ ਫੋਕਸਿੰਗ ਲੈਂਸਾਂ ਰਾਹੀਂ ਵਰਕਪੀਸ 'ਤੇ ਸਿੱਧਾ ਕੰਮ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ।
ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ਾਲ ਸ਼੍ਰੇਣੀ 'ਤੇ ਲਾਗੂ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, ਜਦੋਂ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ Li ਬੈਟਰੀਆਂ, Nd ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ:YAG ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਤਕਨਾਲੋਜੀਵੱਖ-ਵੱਖ ਧਾਤਾਂ ਨੂੰ ਜੋੜਨਾ TIG ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਰੋਧਕ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਨਾਲੋਂ ਵਧੇਰੇ ਕੁਸ਼ਲ ਹੈ। ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ, ਕਿਉਂਕਿ ਆਪਟੀਕਲ ਫਾਈਬਰਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਉਤਪਾਦਨ ਦੌਰਾਨ ਲੇਜ਼ਰਾਂ ਨੂੰ ਸੰਚਾਰਿਤ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਵਰਕਬੈਂਚਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਅਤੇ ਲਚਕਦਾਰ ਢੰਗ ਨਾਲ ਅੱਗੇ ਵਧਣਾ ਸੁਵਿਧਾਜਨਕ ਹੈ।
ਸੰਖੇਪ ਵਿੱਚ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਹੇਠ ਲਿਖੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਹਨ:
- ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਵਰ ਵਿੱਚ ਵਾਧੇ ਦੇ ਨਾਲ, ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦਾ ਸਤਹ ਵਿਆਸ ਉੱਪਰ ਅਤੇ ਹੇਠਾਂ ਉਤਰਾਅ-ਚੜ੍ਹਾਅ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜਦੋਂ ਕਿ ਫਿਊਜ਼ਨ ਸਤਹ ਅਤੇ ਹੇਠਲੀ ਸਤਹ ਦਾ ਵਿਆਸ ਹੌਲੀ-ਹੌਲੀ ਵਧਦਾ ਹੈ। ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਕਰਾਸ-ਸੈਕਸ਼ਨਲ ਆਕਾਰ ਵਿੱਚ ਤਬਦੀਲੀ ਸਪੱਸ਼ਟ ਨਹੀਂ ਹੈ। ਜਿਵੇਂ-ਜਿਵੇਂ ਮਿਆਦ ਵਧਦੀ ਹੈ, ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦਾ ਆਕਾਰ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਵਧਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਫਿਊਜ਼ਨ ਸਤਹ ਵਿਆਸ ਦੀ ਤਬਦੀਲੀ ਦਰ ਉੱਪਰਲੇ ਅਤੇ ਹੇਠਲੇ ਸਤਹ ਵਿਆਸ ਨਾਲੋਂ ਵੱਧ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਡੀਫੋਕਸ ਮਾਤਰਾ ਵਿੱਚ ਤਬਦੀਲੀ ਦਾ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਆਕਾਰ 'ਤੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਪ੍ਰਭਾਵ ਪੈਂਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸਪਾਟ ਵਿਆਸ ਅਤੇ ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਵਰ ਘਣਤਾ ਨੂੰ ਬਦਲਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਇਹਨਾਂ ਦੋ ਕਾਰਕਾਂ ਦਾ ਵਿਆਪਕ ਪ੍ਰਭਾਵ ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦੇ ਆਕਾਰ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਦਾ ਹੈ।
- ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਘੁਸਪੈਠ ਹੋਣ ਦੀ ਸਥਿਤੀ ਵਿੱਚ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਸਪੱਸ਼ਟ ਝੁਲਸਣਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਵਰ ਅਤੇ ਮਿਆਦ ਵਿੱਚ ਵਾਧੇ ਦੇ ਨਾਲ, ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਝੁਲਸਣ ਦੀ ਡੂੰਘਾਈ ਵਧਦੀ ਹੈ। ਜਦੋਂ ਮਿਆਦ ਜਾਂ ਪਾੜੇ ਦਾ ਆਕਾਰ ਵੱਡਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਹੇਠਲੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵੀ ਦਿਖਾਈ ਦੇ ਸਕਦੀ ਹੈ।
- ਜਿਵੇਂ-ਜਿਵੇਂ ਪਾੜਾ ਵਧਦਾ ਹੈ, ਵੈਲਡ ਸਪਾਟ ਦਾ ਸਮੁੱਚਾ ਵਿਗਾੜ, ਕੇਂਦਰੀ ਝੁਲਸਣਾ ਅਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਪੱਸ਼ਟ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਫਿਊਜ਼ਨ ਸਤਹ ਸੁੰਗੜ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਤਾਕਤ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਘਟਦੀ ਹੈ। ਵਰਤਮਾਨ ਵਿੱਚ, ਰੋਧਕਾਂ, ਬੈਟਰੀਆਂ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨਿਕਸ ਖੇਤਰ ਦੀ ਵੈਲਡਿੰਗ ਵਿੱਚ, ਦੋ ਸਥਾਨਾਂ ਨੂੰ ਇੱਕੋ ਸਮੇਂ ਵੈਲਡਿੰਗ ਕਰਨ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਜੋ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਦੋ ਲੇਜ਼ਰ ਰੋਸ਼ਨੀ ਸਰੋਤਾਂ ਵਾਲੇ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਨੂੰ ਅਪਣਾਉਂਦੀ ਹੈ।
ਪੋਸਟ ਸਮਾਂ: ਅਕਤੂਬਰ-27-2025
